Producten voor test van kabels (2)

In-line foutentest op enkele draden en kabels tijdens het extrusie- of wikkelingsproces is tegenwoordig standaardprocedure. ZUMBACH Spark Testers kunnen worden gebruikt om de meest diverse kabelproducten te testen volgens internationale normen, zoals IEC 62230, UL 1581, UL 2556 en anderen. Geïntegreerde poorten maken communicatie mogelijk voor eenvoudige integratie met kwaliteitscontrolesystemen (bijv. USYS). Volgens verschillende toepassingen biedt ZUMBACH Mains Frequency, Direct Current en High-Frequency vonktesters aan. Typisch worden ze geïnstalleerd aan het einde van de koelgoot in extrusielijnen of in wikkelingsprocessen en detecteren ze de kleinste defecten en blote plekken in de isolatie of omhulsel van elektrische draden en kabels. Eigenschappen Testen met sinusvormige wisselspanning en netfrequentie of lage frequentie Detectie van blote plekken en pinholes Elektroden voor productdiameters tot 250 mm Modellen met tot 40 kV AC of 28 kV DC beschikbaar

Continue oppervlakte-inspectie voor alle soorten producten ZUMBACH's gloednieuwe SIMAC 40/70 voldoet aan de hedendaagse behoeften voor inline oppervlakte-inspectie van geëxtrudeerde producten zoals buizen, kabels en slangen met de consistente implementatie van machine vision en machine learning. Defectdetectie De SIMAC detecteert anomalieën en materiaalfouten die moeilijk te detecteren zijn, zoals verbindingen die niet volledig gekristalliseerd zijn, verbrande materiaalinclusies, ontbrekende coatings, krassen, richels, kleurafwijkingen, bubbels, scheuren, gaten, enz. Belangrijkste Kenmerken • Continue inline oppervlakte-inspectie • De 4 camera's zorgen voor 100% dekking, zelfs voor kleine producten dankzij overlappende zones. • Geavanceerde algoritmen zoeken in de afbeelding naar defecten op basis van vooraf getrainde voorbeelden. • Snelle en gemakkelijke introductie in productielijnen met de opening aan de zijkant • Compact ontwerp maakt eenvoudig onderhoud mogelijk • Werkt met alle oppervlakken/kleur • Gegevensregistratie voor latere analyse en training van defectdetectie.